激光半導體特性測試機的主要特點

更新時間：2023-12-23

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激光二極管有一大部分的應用于光通訊與電信工業的范疇內，如光收發器(Transceiver) 等產品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測試光纖的耦合后的特性，能減低產品的失敗率。Chroma 58620測試系統中含有自動對焦系統(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser進行激光光大功率點耦合并測試，當激光光達一定程度的耦合效率時，系統搭配光譜分析儀(OSA) 進行分析了解激光二極管共振膜態，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser快速達到激光發光區(Emission Region) 并進行搜尋大發射功率點可加速測試，大幅減低光纖耦合調校時間與測試人力。

Chroma 58620藉由多年在半導體IC測試的經驗與技術，發展共享載具與更換治具等概念并應用于激光二極管產業。傳統在激光二極管前段測試過程中，需經過多次的老化測試(Burn-In) 與特性檢測制程(Characterization)，在更換載具的過程中常會損壞待測物減低良率，共享載具的好處可讓研發或操作員只需要在D一次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測物之下完成所有必要的檢測，此設計亦可搭配Chroma 58601老化測試機。然而，激光二極管的形式(Form Factor) 于各家設計皆有所不同，而58620更換治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進行修改后即馬上可進行量測，目前可使用的形式為Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar等。

主要特色：

全自動化檢測邊射型激光半導體芯片

高精密及高容量載具設計

自動光纖耦合測試對位設計(Auto-alignment)

AOI輔助定位，加速測試時間

共用載具設計可搭配燒機測試

高精密TEC溫度控制，穩定度達0.01℃

搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter

軟體分析激光特性: Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等

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