Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測量系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測量系統(tǒng)
適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測
使用3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
使用陶瓷吸附平臺(tái)，可將待測物吸附於平臺(tái)上使表面平整，亦不對(duì)待測物造成皺褶或破損
3D厚度量測範(fàn)圍大
可量測透明材質(zhì)
高靜態(tài)量測重複精度
高動(dòng)態(tài)量測重複精度
具備腳本功能可進(jìn)行自動(dòng)量測

產(chǎn)品型號(hào)：7505-K007

更新時(shí)間：2025-07-07

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：1318

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產(chǎn)品分類

測試系統(tǒng)

艾諾測試系統(tǒng) 益和測試系統(tǒng) 致遠(yuǎn)測試系統(tǒng) 致茂測試系統(tǒng) 是德測試系統(tǒng)

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品牌	Chroma/致茂	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

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Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)測量系統(tǒng)

主要特色：

適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測
使用3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
使用陶瓷吸附平臺(tái)，可將待測物吸附於平臺(tái)上使表面平整，亦不對(duì)待測物造成皺褶或破損
3D厚度量測範(fàn)圍大
可量測透明材質(zhì)
高靜態(tài)量測重複精度
高動(dòng)態(tài)量測重複精度
具備腳本功能可進(jìn)行自動(dòng)量測

Chroma 7505-K007薄膜厚度自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng)主要整合3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析，適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測。同時(shí)配備陶瓷吸附平臺(tái)，可將待測物吸附於平臺(tái)上使表面平整，亦不對(duì)待測物造成皺褶或破損，3D厚度量測範(fàn)圍大、設(shè)備靜態(tài)重複精度高與設(shè)備動(dòng)態(tài)重複精度高，具備Recipe功能可進(jìn)行自動(dòng)量測，此外系統(tǒng)亦提供檢測數(shù)據(jù)資料的存檔功能，供後續(xù)操作人員處理分析使用。

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