致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機

產品簡介

致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機
雙用單站測試分類機
適用於終端測試或系統功能測試
自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統（Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃）
可選配的高功率冷卻系統
理想的產品工程或研發實驗設備機

產品型號：3110

更新時間：2025-07-07

廠商性質：代理商

訪問量：1664

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產品分類

測試系統

艾諾測試系統益和測試系統致遠測試系統致茂測試系統是德測試系統

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品牌	Chroma/致茂	產地類別	國產
應用領域	電子/電池

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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機

主要特色：

雙用單站測試分類機
適用於終端測試或系統功能測試
自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能
測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統 (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
可選配的高功率冷卻系統
理想的產品工程或研發實驗設備機，可自動蒐集與分析測試、實驗結果的數據

3110 是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類機，支援各種不同類型封裝的晶片，如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分類機運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙移至測試區，再依測試結果進行分類。3110 不但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解決方案。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有自動進出料分類艙及手動分類盤，可蕞優化工程測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面，及適配性高的testers連接介面，大幅提升機臺的使用率及共用性。除此之外，它能針對不同的測試環境條件，提供數個溫控系統的選擇，如三溫控制系統、高功率冷卻系統等，測試的環境溫度可設置于常溫、高溫或低溫。