致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機

產品簡介

致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機
整合SD卡測試機與自動分類機功能
平行測試120個micro SD卡
Test-In-Tray
UPH = 5400 （以70秒的測試時間為例）
支援SD卡資料通訊協定
支援DC參數量測功能
Microsoft Windows XP OS

產品型號：3280

更新時間：2025-07-07

廠商性質：代理商

訪問量：2009

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產品分類

測試系統

艾諾測試系統益和測試系統致遠測試系統致茂測試系統是德測試系統

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品牌	Chroma/致茂	產地類別	國產
應用領域	電子/電池

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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機

主要特色：

整合SD卡測試機與自動分類機功能
平行測試120個micro SD卡
Test-In-Tray
UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
支援SD卡資料通訊協定
支援DC參數量測功能
Microsoft Windows XP OS
提供Tray Map與分類結果資訊
小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
選配設備
3rd Party測試模組整合
Mini SD, SD與MMC的測試介面
SD卡資料寫入模組

Chroma 3280采用創新的技術整合SD卡測試機與自動分類機的功能，并利用Test-In-Tray的技術來達到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳輸協定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測試的功能，3280為所有的SD卡類產品帶來了一個創新的測試方法，而這高效率的測試方法也為客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外，小機臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。

對于低價的消費性產品而言,即使在生產成本上僅有些微的差距，制造商也會極為敏感。而這樣的特性往往是此類消費性產品在成品測試中之一大挑戰。對于SD卡類產品而言，為了能夠降低生產的成本，SD卡類制造商了解在SD卡的制程中必須采用Known Good Die(KGD)來進行生產。其主要的原因，乃是因為采用KGD生產的SD卡類產品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要求，只需針對成品封裝過程中所可能產生的瑕疵進行檢測，而不需要再對整個晶片進行完整的測試。

Chroma 3280整合了測試機臺與自動分類機的功能，并采用創新的設計，滿足采用KGD生產的SD 卡類產品的測試需求，不論是在機臺的成本或是體積上，都比傳統的測試機臺來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤中直接測試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅節省傳統的測試方法因自動分類機在進行測試時，必須以機器手臂夾取每個待測元件所需花取的索引時間。因此，提供了一個蕞有效率的測試方法。在Chroma 3280中,對于120個SD卡進行測試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。

Chroma Test Hive

僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤中直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特性，3280采取僅從整盤的SD卡中移除于測試過程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤內，同時再從預先準備好的補充盤中夾取已測試過的良品來補足目前測試盤中被移除的壞品，而將目前的測試盤填滿成一完整的良品，并送至完測區。假設若以 98%的測試良率而言，每次僅需從測試盤中移除 2到3個壞品。因此，在進行好壞品分類中平均所花的時間將小于測試所花的時間，不須要等候分類工作完成后才能進行下一次的測試，也使得整體的測試時間更有效率。

SD卡測試模組 : Firecracker II

Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計*一樣。對于3280的使用者而言，Firecracker II是一個相當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線的狀態下，用來產生或測試其測試程式。透過多樣化轉接介面的設計，使用者能在Firecracker II的左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同的待測物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式，使用者將可進行直接的測試或是除錯等工作。

Firecracker II