致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統

產品簡介

致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統
50/100MHz測試工作頻率
1024個 I/O 通道（I/O Channel）
32M （64M Max.） Pattern 記憶體（Pattern Memory）
Per-Pin 彈性資源架構
512 DUTS 平行測試功能
96個電源通道
硬體規則模式產生器（Algorithmic Pattern Gener

產品型號：3650-EX

更新時間：2025-07-07

廠商性質：代理商

訪問量：1783

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產品分類

測試系統

艾諾測試系統益和測試系統致遠測試系統致茂測試系統是德測試系統

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品牌	Chroma/致茂	產地類別	國產
應用領域	電子/電池

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致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統

主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
1024個 I/O 通道(I/O Channel)
32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構
512 DUTS 平行測試功能
96個電源通道
硬體規則模式產生器 (Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學易用的 WINDOWS 7作業環境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉換軟體(J750-EX)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
蕞經濟實惠的SoC和消費性混合信號晶片產品測試方案

平行測試功能

Chroma 3650-EX可在一個測試頭中，提供多 1024個數位通道，并具備高產能的平行測試功能，蕞高可同時測試512 個待測晶片，以提升量產效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個數位通道，并結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個數位通道的時序產生器，以提供50ps 以內的精準度。

彈性化架構

雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之上。Chroma 3650-EX在設計其架構時，應用* 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實現從設計端至量產端使用同一PXI平臺已減少因硬體不同所造成的測試誤差。

CRISP (軟體測試環境)

架構在Windows 7作業系統上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個結合工程開發與量產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試流程之穩定度。

在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生產人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品導向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650-EX、晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的各項參數，以符合生產環境的需求。而操作員所需進行的工作，只是選擇程式設計者已規劃好的流程，即可開始量產，大幅降低生產線上的學習的時間。

蕞低價位的測試解決方案

要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統的價格而已。Chroma 3650-EX的設計即是可適用于所有類型的應用環境，例如 : 工程驗證、晶圓測試和成品測試。周邊設備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅動程式介面(TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。