致茂Chroma 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)
50/100MHz測(cè)試工作頻率
512個(gè) I/O 通道（I/O Channel）
16M （32M Max.） Pattern 記憶體（Pattern Memory）
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測(cè)試功能
ADC/DAC 測(cè)試功能

產(chǎn)品型號(hào)：3650

更新時(shí)間：2025-07-07

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：1430

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產(chǎn)品分類

測(cè)試系統(tǒng)

艾諾測(cè)試系統(tǒng) 益和測(cè)試系統(tǒng) 致遠(yuǎn)測(cè)試系統(tǒng) 致茂測(cè)試系統(tǒng) 是德測(cè)試系統(tǒng)

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品牌	Chroma/致茂	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池

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致茂Chroma 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

50/100MHz測(cè)試工作頻率
512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測(cè)試功能
ADC/DAC 測(cè)試功能
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
蕞經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品的測(cè)試方案

平行測(cè)試功能
Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能，蕞高可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。

彈性化架構(gòu)
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時(shí)間需求的設(shè)備之上。Chroma3650在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測(cè)試模組、ALPG記憶體測(cè)試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測(cè)試模組等等選配，以確保符合未來多年的測(cè)試需求。

CRISP (軟體測(cè)試環(huán)境)
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的軟體測(cè)試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺(tái)。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè)試機(jī) 臺(tái)管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計(jì)，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯(cuò)工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開發(fā)程式時(shí)的需求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測(cè)試參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評(píng)估其測(cè)試流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計(jì) 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺(tái)，生產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測(cè)試階段。它提供產(chǎn)品導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的流程，即可開始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時(shí) 間。

蕞低價(jià)位的測(cè)試解決方案
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功能強(qiáng)大而且多樣化的測(cè)試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成本效益的測(cè)試解決方案，必須藉由降低測(cè)試時(shí)間和整體成本來達(dá)成，而非只是簡單地減少測(cè)試系統(tǒng) 的價(jià)格而已。Chroma 3650的設(shè)計(jì)即是可適用于所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn)證、晶圓測(cè) 試和成品測(cè)試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測(cè)機(jī)和送料機(jī)，包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

應(yīng)用支援
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機(jī)會(huì)、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新策略降低測(cè)試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容量，Chroma 位于的客服支援人員皆會(huì)竭盡所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。

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