致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統

產品簡介

致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統
50/100MHz測試工作頻率
256個 I/O 通道（I/O Channel）
16/32 MW vector 記憶體
16/32 MW pattern instruction 記憶體
Multi-site 測試可達 32 sites
16個 DPS 通道
8個 PMU 通道

產品型號：3650-CX

更新時間：2025-07-07

廠商性質：代理商

訪問量：1843

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產品分類

測試系統

艾諾測試系統益和測試系統致遠測試系統致茂測試系統是德測試系統

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品牌	Chroma/致茂	產地類別	國產
應用領域	電子/電池

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致茂Chroma 3650-CX SoC 測試系統

主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
256個 I/O 通道(I/O Channel)
16/32 MW vector 記憶體
16/32 MW pattern instruction 記憶體
Multi-site 測試可達 32 sites
16個 DPS 通道
8個 PMU 通道
Per-Pin 時序頻率測試單位
蕞高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
可選購記憶體測試用ALPG
高達 16 high-voltage pins
16 個高性能 DPS 通道
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
Windows® XP操作環境
C++ 程式語言與圖形人機介面設計
采用CRISP完整多樣的系統軟體工具
與周邊設備相容性高
All-in-One小型化氣冷式機臺設計，節省占地面積
Cable Mount / Direct Mount

應用范圍

MCU/MCU + 嵌入式記憶體
NAND Flash Controller
PC I/O
Switch ICs
智慧型電源管理裝置
混合訊號、數位式、類比式 ICs
ADC/DAC/CODEC ICs
各類消費性產品IC
適用工程研發、晶粒測試及 Final Test
電源 IC
LED 驅動 IC

Chroma 3650-CX實現高性價比的IC測試系統
3650-CX采用All-In-One的小型化設計，除了擁有相當競爭性的機臺價格之外，并具備高準確性與高生產力。因此，能夠降低客戶的測試成本與提升IC產品的利潤。3650-CX具備多樣化的測試能力與強大的軟體工具，能夠用來測試包含MCU，NAND flash controller, PC周邊相關的 IC，Switch，LED驅動IC，以及Power IC和SoC等產品。

強大且功能完整的3650-CX系統軟體 - CRISP
架構在Windows XP作業系統上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一個結合工程開發與量產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等軟體模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需求與產線人員量產時的需求。

All-in-One小型化機臺設計節省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機臺的電源系統全部整合在單一個測試頭的空間里，并且采用氣冷式的設計。透過如此高整合度的小型化設計，可以大幅減少機臺的占地面積，以節省整體的測試成本。

周邊設備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅動程式介面 (TTL & GPIB) ，可進行與晶圓針測機和送料機，包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

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